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本工作展示了一款基于等离子体的热显微镜技术,可以对局部温度变化进行成像,信号主要来自表面等离子体共振的变化。该方法可以检测低至6 mK的温度变化,同时也可以观察到 10 μs时间分辨率下的热扩散过程。不仅如此,我们成功地观察到了不同种类单颗粒级别纳米材料的光热信号,说明该方法在单分子检测和缺陷探测领域中拥有极大的潜力。